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矿粉比表面积及孔径分析仪

型号
金埃谱科技(北京)有限公司

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粉体材料比表面积仪,金属粉末材料比表面积分析仪,高分子纳米材料孔径测量仪,实验室用比表面积及孔径检测仪

北京金埃谱科技是北京市*,位于我国*的高校云集,中科院研究院所汇聚的北京*产业区-中关村.公司起源和服务于中国兵器系统行业,依托当地人才资源和兵器系统技术优势,致力于科学分析仪器的研发,生产及销售.以创立兵器和民用行业国有为发展宗旨,通过与兵器系统密切合作,同时借鉴*进技术,研发具有自主知识产权的自动化及智能化检测仪器,为我国科研单位及生产企业提供与产品接轨,高可靠性,高性价比的*科研设备.目前主要产品有V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪,F-Sorb X400系列4BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.

详细信息

4站全自动矿粉比表面积及孔径分析仪技术参数

比表面积及孔径分析仪测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定, t-plot图法外比表面积测定

比表面积及孔径分析仪测试模式:V-Sorb*的集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”于一体,供客户根据实际需要选择使用;采用“氮气+氦气标准测试模式”,符合标准,可确保结果的准确性和*性,且操作简单;对于低温下可吸附氦气的样品,不适宜采用氦气测定自由空间,可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果.

比表面积及孔径分析仪测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)

比表面积及孔径分析仪测量精度:重复性误差小于1.5%

比表面积及孔径分析仪真空系统:V-Sorb*的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测试的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命

比表面积及孔径分析仪液位控制:V-Sorb*的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,*消除因死体积变化引入的测量误差

比表面积及孔径分析仪控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗*力,提高仪器稳定性和使用寿命

比表面积及孔径分析仪样品数量:同时进行4个样品分析和4个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命

比表面积及孔径分析仪压力测量:采用*压力传感器测量压力,显著提高低 P/Po点下测试精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),压力传感器必须提供进口检测证书

比表面积及孔径分析仪压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%)

比表面积及孔径分析仪真空泵:真空泵内置仪器中,且通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命.

比表面积及孔径分析仪分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995

比表面积及孔径分析仪极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)

比表面积及孔径分析仪样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等

比表面积及孔径分析仪测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

比表面积及孔径分析仪标定气体:具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能,不能仅仅只具备采用"氮气+空管"模式标定冷自由空间

比表面积及孔径分析仪数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗*力强

比表面积及孔径分析仪数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表

金埃谱科技是比表面积仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪,比表面积测定仪,孔径分析仪,孔隙率测定仪,比表面仪和微孔分析仪,孔径分布测试仪,比表面及孔隙度分析仪国产实现真正*自动化智能化测试技术的*和者,多项*技术已成为业内厂商仿效*.

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