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电镀检测机器设备

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参数
应用领域:文体,电子,冶金,综合
深圳市天创美科技有限公司

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能量色散X荧光光谱仪,ROHS ROHS2.0 REACH指令检测仪|化合物分析|元素分析仪|土壤检测仪|ROHS检测仪|合金检测仪|元素分析仪|矿石检测仪|含铅量检测仪

  说明:购买设备前,请先咨询客服有没有现货

    我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(铜合金、铝合金、镁合金等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿(各种矿石品位检测设备)、塑料(无卤测试等)、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。





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电镀检测机器设备

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(铜合金、铝合金、镁合金等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿(各种矿石品位检测设备)、塑料(无卤测试等)、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。

以下是X荧光光谱仪测试电镀镀层的仪器简介:

镀层检测:

常见金属镀层有:

镀层

基体

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

单层厚度范围:

金镀层0-8um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内,

可最小测量达0.001um。

多层厚度范围:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

镀层层数为1-6层

镀层精度相对差值一般<5%。

镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

镀层分析优势:分析PCB金手指最小尺寸可达0.2mm

单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)

Ni层厚度(um)

精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

元素成分分析:

镀液分析,目前常见镀液元素分析有:金、银、锡、铜、镍、铬、锌。

ROHS 和无卤检测,高性能SDD探测器可以精确检测无卤,实现镀层与环保一机多用。

金属成分分析,在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。

检测精度:

Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属

检测限达1ppm。

对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准:

A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%

B. 检测含量在0.5~5%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%

C. 检测含量在0.1~0.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%

D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%

测量精度:

1)精度(单层):

                             测厚仪的检测精度表

Ni层厚度(um)

保证精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%





   测试方法: 在相同的操作条件下,对同一标准样板进行5次检测,检测到的平均数据与标样板的实际数据作比较。检测精度为检测平均值与标准样片实际值之差(平均误差)

2)两层及以上:

 两层及以上的首层精度符合单层的测试结果,但是第二层以上比较复杂,要根据上面一层的厚度来决定。在第一层厚度小于2um时,一层和二层的测试精度基本符合单层的精度,参照如下的测试报告,第一层金标样厚度0.101um,第二层镍的标样厚度为4.52um。

  在第一层厚度在2~5um时会大大降低第二层的和第三层的测试精度,第二层的误差率会在5~10%,第三层的误差率小于15%。

重复性:

保证重复性值:±5%

   重复性的检测应在仪器校准后: 在相同的操作条件下,使用相同的检测样板做连续重复检测,连续测量必须在同一检测点位置使用一同样片间隔60秒,测量一共进行10次,每次测量值与10次平均值进行对比。

重复性=平均误差÷平均值×100 %.

报告打印:

可以PDF,Excel格式输出报告,历史数据查询方便

安全使用,维护与保养

由于仪器非常精密,未经允许情况请不要打开仪器外壳,不要对X射线源和探测器进行改变,由用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。

仪器安装一定要平稳,仪器后面离墙距离不得小于30厘米,必须使用标准的220V交流电,电压不稳情况要配备稳压电源,插座必须接地良好,由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。

请不要用湿的手触摸电源部分,带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。

进行测量时,因为高电压流至X射线源,仪器运行时,不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。

仪器环境要求:仪器使用环境需清洁,温度适宜15℃~30℃,湿度80%,电源:AC: 220V ±5V。

以上细节均有可能造成无法预测后果,买方应予以基本遵守。

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