致茂Chroma Model 11090-03射频LCR数字电桥

射頻 LCR 錶MODEL 11090-030

Chroma 11090-030 射頻LCR錶為一提供貼片電感及射頻濾波器等被動元件高頻量測評估解決方案。其高達300MHz的測試頻率，對於POL或一般小型DC-DC Converter之電感元件，不僅滿足日益增高的標稱頻率測試外，更可滿足需要於超高頻檢測才能測出之品質異常。此外，同樣能滿足如EMI-Filter、Ferrite Bead等慣用的100MHz阻抗測試需求。涵蓋量測項目 Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp,Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 等各種被動元件測試所需的主、副參數。100kHz~300MHz的寬廣測試頻率範圍，採用RF式電流電壓轉換技術，其優於網路分析儀技術的阻抗量測範圍，高於自動平衡橋技術的頻率量測範圍，適合研發與品保單位分析被動元件於不同頻率下的特性。此外，搭載超低雜訊、低諧波失真訊號產生模組，賦予量測訊號高品質純淨度，進而提升阻抗測試的準確性。0.8%的基本量測準確度使量測結果呈現高穩定性與高可靠性，0.5ms的快速量測可搭配自動化機台，能有效率地大幅提高產量。符合多種小型的SMD測試治具，採用改進的下壓方式，可旋轉90度並僅需三個步驟來更換待測物 (實際測試約40秒)，能替使用者減少更換不同尺寸待測物的時間、加快測試速度、免除反覆拆裝限位墊片，進而減少損耗與後續客戶的維護費用。Chroma 11090-030 射頻LCR錶藉由全面性設計的規格考量與重點式的功能強化，不論是在產品特性研發與分析、自動化產線快速測試或是各式零件進出料管理，皆為完善的測試解決方案，為您提供市場上少數既有解決方案之外全新的選擇。

致茂Chroma Model 11090-03射频LCR数字电桥

射頻 LCR 測量非常依賴正確的校正 (OPEN/SHORT/LOAD) ， 過程錯誤或漏掉某一項則很容易造成錯誤的結果。11090-030 具有嚮導功能的校正/補償方法能消除繁瑣的校正/補償程序之錯誤，讓使用者具有引導式校正程序，降低漏掉項目的風險、並且有圖示指引降低取錯標準件的錯誤，對於已完成校正程序者，測試畫面也有對應的顯示。