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HT-YB-I 高杆植物表型检测系统
- 型号
- HT-YB-I
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详细信息
HT-YB-I玉米表型检测仪
1.1 简介
高杆植物表型检测系统又称 玉米表型检测系统可一键检测分析玉米凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、玉米株高、茎秆节间距和基粗叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和玉米千粒重等高通量表型参数。仪器可广泛用于各农科院、高校、育种公司、种子站的玉米表型研究！对遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等方面起到重要作用。
1.2 高杆植物表型检测系统 适用范围：
1、玉米株型适用于室内盆栽的玉米
2、玉米株高适用于大田玉米株高测量
3、千粒重适用于室内考种测量
1.3 测量误差
1、株高测量范围: 300-3800mm 精度: 0.5%
2、玉米株型:测量范围:0-1.8m，株高准确度: 1%，角度参数精度: 3%，其他参数准确度:5%
3、数粒精度误差: 2%，修正后可达100%
1.4 硬件配置
1、手机支架: 用于手机固定拍摄
2、背景布: 黑色磨砂布面
3、背光板: 超薄发光板
4、数据采集器: 超大彩色屏手机
5、玉米株高测量杆: 移动测量式标定杆
