半导体检测

紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状 TiO2 带隙

2021-05-06741
检测样品
TiO2
检测项目
带隙
应用领域
电子/电气

珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

高级会员16
方案概述
测量材料的带隙对半导体、纳米材料以及太阳能等行业均非常重要。此篇文章描述了如何从某一材料的紫外吸收光谱确定它的带隙。
相关产品清单
方案详细说明
测量材料的带隙对半导体、纳米材料以及太阳能等行业均非常重要。此篇文章描述了如何从某一材料
的紫外吸收光谱确定它的带隙。
 
1. 带隙的解释说明
 
“带隙”指的是价带跟导带之间的能量差(图 1);电子能够从某一能带跃迁到另一能带。对于电子来说要从价带跃迁到导带,需要一个一定的最小能量来跃迁,即带隙能。
 
在半导体和纳米材料行业测量带隙是非常重要的。绝缘体的带隙大(>4 eV),导体的带隙小(<
3 eV)。某一半导体的带隙特性可以通过不同的半导体合金得到控制,如 GaAlAsInGaAs InAlAs。参考文献 1 给出了不同材料以及对应的带隙。
该企业其他方案

温馨提示:

1.本网的解决方案仅供学习、研究之用,版权归属此方案的提供者,未经授权,不得转载、发行、汇编或网络传播等。

2.如您有上述相关需求,请务必先获得方案提供者的授权。

3.解决方案为企业发布,信息内容的真实性、准确性和合法性由上传企业负责,化工仪器网对此不承担任何保证责任。

电话咨询 在线询价

下载此方案需要您留下相关信息

对本公司产品近期是否有采购需求?

提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :