单颗粒 ICP-MS 测定铁纳米颗粒：利用通用池技术消除质谱干扰|解决方案-化工仪器网-手机版

方案概述

随着纳米颗粒兴趣的增加，各种测试方法正被应用。采用单颗粒模式电感耦合等离子体质谱法（SP-ICP-MS）分析ICP - Mass Spectrometry金属纳米颗粒成为有前途的技术之一。

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方案详细说明

随着纳米颗粒兴趣的增加，各种测试方法正被应用。采用单颗粒模式电感耦合等离子体质谱法（SP-ICP-MS）分析ICP - Mass Spectrometry金属纳米颗粒成为有前途的技术之一。由于其高灵敏度、易用性和分析速度快等特点，ICP-MS 是一种理想的技术，用于检测纳米颗粒的特性：无机成分、浓度、尺寸大小、粒度分布和聚集等。

ICP-MS 分析挑战之一为干扰导致错误的分析结果。然而，这并非是一个问题，因为迄今为止大多数 SP-ICP-MS 应用均没有涉及到基体干扰或常规质谱干扰问题。例如，金和银纳米颗粒在工业中应用较广，未受到常规干扰。另外，大多数纳米颗粒存在简单基体中，该基体几乎不产生干扰。

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