使用全基体进样系统和单颗粒ICP-MS 快速测定海水中纳米颗粒
2021-11-16648单颗粒ICP-MS（SP-ICP-MS）已成为分析各种环境样品中纳米颗粒（NPs）的重要工具。该方法能够在单次分析中快速、准确地分析粒径、颗粒浓度和溶解离子浓度，从而成为跟踪纳米颗粒在自然系统中的行为（溶解和聚合）的优选技术。然而，纳米颗粒在环境样品中的溶解和聚合取决于基体，且样品基体组成和浓度对其具有极大影响。使用NexION® ICP-MS的全基体进样系统（AMS）进行分析，可以提供在线地利用气体对雾室中气溶胶进行稀释的功能，从而避免人为稀释样品。
使用NexION 1100 ICP-MS检测和验证药品中的元素杂质
制药/生物制药检测
Avio 200 ICP-OES测定固态电解质中杂质元素含量
电池检测使用NexION 1100 ICP-MS直接测定高纯氧化铽中的稀土杂质
材料检测
使用珀金埃尔默Pyris™ DSC 9分析聚乙烯再生料
石油/化工检测
商用涂料中VOC含量分析：顶空-气相（FID）法
石油/化工检测
使用Pyris™ TGA 9测定药用辅料的干燥失重
制药/生物制药检测
使用Spotlight 400红外成像系统鉴定面粉中添加的增筋剂
食品/农产品检测温馨提示：
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