半导体检测

利曼Prodigy直流电弧光谱仪 (DC Arc) 测定高纯硅中的痕量元素

2022-08-20890
检测样品
高纯硅
检测项目
铝,硼,钙,铬,铜,铁,锰,镍,磷,钛,钒
应用领域
电子/电气

北京利曼科技有限公司

高级会员11
方案概述
本文检测样品中的铝、硼、钙、铬、铜、铁、锰、镍、磷、钛和钒等,证明Teledyne Leeman Labs Prodigy直流电弧光谱仪测定高纯硅中痕量元素的能力。
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方案详细说明

硅是地壳中第二常见的元素,其熔点为1414℃。但自由态的硅元素很少在自然界中找到。由于其电阻性和相对高的热传导性能,硅被广泛应用。高纯硅被广泛应用于太阳能工业,例如被制成硅晶片,太阳能电池和硅基半导体。作为合金,硅铁合金占世界上硅制品的绝大多数,被用于钢铁工业。硅同样用于改善铝的硬度和抗磨性,使其可用于钢铁生产。


本文检测样品中的铝、硼、钙、铬、铜、铁、锰、镍、磷、钛和钒等,证明Teledyne Leeman Labs Prodigy直流电弧光谱仪测定高纯硅中痕量元素的能力。

 

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