半导体检测

ARMS 在超表面及纳米天线研究中的应用

对基于纳米天线的异常反射超表面进行宽谱段微区角分辨光谱表征

   超表面          超构材料          纳米天线          异常反射         角分辨光谱     

【概述】相比于传统的光学元件，超表面能够在亚波长尺度的表面创建相位面。通过超表面的设计，可以实现偏振转换、异常反射以及完美吸收等诸多功能，为超薄纳米光致偏振元件的发展铺平了道路，如异常光偏转器、透镜、波片、全息图、涡旋光束发生器、光波导器件等。

为了实验验证上述超表面结构的性能，作者采用 傅里叶变换角分辨光谱法（FT-ARS）进行了小衍射角的表征，获取了±60°，400~1450nm 的衍射光谱，实现了波长及角度相关的远场强度分布表征（图3）。图3b 模拟结果与 图3a 测量结果数据吻合，证实了所设计的超表面能够获得可见到近红外的超宽带高角度衍射特性。在 440~780nm 可见波段和 964~1300nm 近红外波段，其异常反射效率均超过 50%，其反射效率峰值分别为 72%@550nm 和 72%@1150nm。
      
      【总结】综上所述，作者利用一对相互关联的可见和近红外纳米天线进行垂直整合，获取可实现超宽带高角度异常反射的超表面结构，并对其进行了表征。本文所设计的超表面的工作带宽几乎是传统使用单一天线的两倍，其反射光以单衍射级进行高角分辨、超过 1000nm 的超宽光谱带宽范围的异常反射。基于其超宽带宽的显著特性，预计在-70° 的大反射角下，异常反射的效率仍保持 65% 以上。

      【参考文献】
      ? Gao, Song, et al. "Vertically Integrated Visible and Near-Infrared Metasurfaces Enabling an Ultra-Broadband and Highly Angle-Resolved Anomalous Reflection." Nanoscale (2018).