半导体检测

拉曼+半导体4H-SiC+不同层载流子浓度

2020-08-07640
检测样品
半导体4H-SiC
检测项目
半导体不同层载流子浓度
应用领域
电子/电气

HORIBA科学仪器事业部

顶级会员9
方案概述
利用共聚焦拉曼进行分析时,不同的激发光可以检测不同浓度的载流子信息,比如325 nm激光辐照可以检测低浓度载流子信息;2、同样是在325 nm激光辐照下,样品内产生的光生载流子浓度会随着离子改性层中铝离子注入剂量的增加而减弱;3、这些都表明了共聚焦拉曼在载流子浓度表征方面的便利与优势。
相关产品清单
方案详细说明

在对一系列具有不同载流子浓度的EPI层和基底层构成的4H-SiC样品进行对比分析后,团队人员发现,随着探针由样品内部基底层上移至样品表面EPI层,对应的LOPC峰位出现一种趋势:先平稳不动,随后逐渐往低波数方向移动(蓝移)(如下图7所示)。我们从上述研究已经知道LOPC峰是对载流子浓度很敏感的峰,这一蓝移现象意味着:从基底层到外延层,载流子存在浓度梯度。再通过对拉曼结果的计算分析,团队人员就获得了不同层对应的载流子浓度梯度。

该企业其他方案

温馨提示:

1.本网的解决方案仅供学习、研究之用,版权归属此方案的提供者,未经授权,不得转载、发行、汇编或网络传播等。

2.如您有上述相关需求,请务必先获得方案提供者的授权。

3.解决方案为企业发布,信息内容的真实性、准确性和合法性由上传企业负责,化工仪器网对此不承担任何保证责任。

电话咨询 在线询价

下载此方案需要您留下相关信息

对本公司产品近期是否有采购需求?

提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :