eLiPMS-2000Plus粉体电阻率测试系统功能说明
时间:2024-01-02 阅读:308
eLiPMS-2000Plus粉体电阻率测试系统是一种用于测量不同压力下粉末材料的电阻率、电导率、厚度、密度等参数的高精度仪器。它是在日本三菱化学分析技术之MCP‐PD51的基础上进行改善完成的,具有以下功能:
内置的精密四探针探头模腔组件和荷重传感器单元,可以施加最大30KN的压力,约95MPa,在压力范围内可设置任意压力点进行测试分析。一键启动,自动进行加压、测试、释放。
简易操作软件界面,可设置不同压力点和保压时间,自动测量压实下粉末的电阻、电阻率、电导率、厚度、压强、颗粒压实密度特性等参数。测试报告自动生成,可输出任两种参量之关系曲线。
系统通过与三菱化学Loresta-GX (MCP-T700)高精度四探针仪连接,可测试宽范围之粉体阻抗特征。电阻测试范围为0.00110-4~9.999107 Ω;电阻率=ΩRCFt(RCF为纠正因子,t为厚度单位cm)。
的探针单元,高精度四探针测试原理,消除样品与探头及引线所引起的误差。也可以裁剪φ20mm的正负电极片样品来测试电池极片在不同压力下的电阻变化;或者单独使用MCP-T700及其标配探头或选配探头来测试片材,所谓多用途。
多重安全防护,主单元保护门开/关防护:透明聚碳酸酯盖+防护开关;自动感知模腔整体组件是否放置准确或者是否放置防护;自动感知粉末模腔放置位置是否准确或者是否放置防护。
eLiPMS-2000Plus粉体电阻率测试系统适用于阻性粉末材料研发及品质控制,可以测试碳粉、金属粉末、墨粉和相关的粉体/磁性材料等。它是一种节能、高效、准确的粉体电阻率测试仪器eLiPMS-2000Plus粉体电阻率测试系统采用精密的探针技术和高精度的测量电路,可以快速、准确地测定粉末材料的电阻率和电导率等参数。
该系统具有多种优点:
首先,它采用了高精度四探针测试原理,消除了样品与探头及引线所引起的误差,确保了测试结果的准确性。
该系统配备了简易操作软件界面,使得用户可以方便地设置不同的压力点和保压时间,自动测量压实下粉末的电阻、电阻率、电导率、厚度、压强、颗粒压实密度特性等参数。此外,它还可以输出任意两种参量之间的关系曲线,方便用户进行进一步的分析和比较。
eLiPMS-2000Plus粉体电阻率测试系统采用了多重安全防护措施,包括主单元保护门开/关防护、自动感知模腔整体组件是否放置准确或者是否放置防护、自动感知粉末模腔放置位置是否准确或者是否放置防护等,有效保障了系统和操作人员的安全。