铜箔测厚仪的测量操作要求
时间：2023-03-15 阅读：1092
1.迅速地测量出规格铜箔的厚度，避免材料报废和返工的高成本。
2.仅有此款商业用手持式测厚仪可以用于铜箔测厚的各种范围。
根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
测量操作要求：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒊测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时侧头与试样表面保持垂直。不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒌在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒍在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。