韩国MicroPioneer X-射线荧光膜厚仪/测厚仪，主要应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造首饰、端子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款仪器，全自动软件操作，多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台，是一款功能强大的仪器

现在市场上膜厚仪主要有：菲希尔（FISCHER）， 精工（SII），韩国（MicroPioneer），牛津（CMI）。国产的有：三V仪器。在测量精度和性能上，国产的基本上是没用，只能摆着看。

 膜厚仪在稳定，故障率，和精度，方面来讲，只能说菲希尔（FISCHER）韩国（MicroPioneer），牛津（CMI）这四*是。市场上占有率zui大的也是这四*，

四*主要用于五金电镀厂，钟表，端子，连接器，TED，卫浴，线路板，及一些复杂的电镀领域，如合金镀层，二元合金，三元合金，等多元合金

菲希尔（FISCHER）占有市场的30%，在测量精度，还是仪器稳定上来说都很不错。但由于价格高昂，维修，消耗品（如标准片，一片的价格可以买其他品牌的3片，且无法更换其他品牌的使用）虽然仪器精度高。稳定性好。但市场主要为早期所建立。 

        精工（SII）主要对应大的日资企业，软件应用，相比菲希尔要麻烦一些。它所采用的是标准曲线法，来建立测量档案。所以需要大量的厚度不一的标准块。仪器稳定性和精度也还是不错的。不过有一点。日本原装的，比上海组装的要好。现在精工所销售的。大部份是上海组装的。品质相对的来说。会差一点。售后维修也是高昂，且中国人民也是抵制日货的。

       韩国（MicroPioneer）和牛津（CMI），  而牛津（CMI）因为配置是zui低端的配置如CMI900所以价格比较低，测量数据没有四年前进口机型稳定。zui主要的是故障率太高了，更换配件的成本很高。CMI也是用标准曲线法来建立测量档案的。也需要购买标准块，虽然价格低。但后期一但出现故障要更换配件。而且在对于合金镀层，和薄金。薄镍，等一些元素的测量上，那个误差大的相当离谱。甚至测不到。

        韩国（MicroPioneer）有高中低3个款型，测试的准直器也有1-5个可选，除了对复杂的电镀领域（如金厚度为0.01um以下）的不是很准确，其他镀层都可以测试达到标准，主要价格方面低过菲希尔（FISCHER）， 精工（SII），牛津（CMI）许多，在每年的软件更新后和硬件的升级。也受到国内厂商的大力好评，如美的（美的顺德，武汉，重庆，合肥，芜湖，都以采购使用），比亚迪（2012投标以使用），富士康（2007年使用之今）等多个客户群。可以来电 深圳市瑞思远科技有限公司 索取使用客户资料。

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

XRF-2000 系列分为以下叁种：

1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。

2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。

3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。 

应用

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。 

行业

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。

特色

非破坏，非接触式检测分析，快速精準。

可测量高达六层的镀层 (五层厚度   底材 ) 并可同时分析多种元素。

相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。

全系列*设计样品与光径自动对準系统。

标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。

準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。

移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。

*2D与3D或任意位置表面量测分析。

雷射对焦，搭配彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。

光学2 0X 影像放大功能，更能对位。

单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。

优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*优势。

仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。

测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号

Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪

是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，

其物点为：高分辨率，固态探测器; 可分析超薄样品

分析有害物质，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;

可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析；

电镀溶液分析；

定性分析超过30种元素,能够测量液体，固体，粉末，薄膜和不规则形状；

贵金属元素含量和分析（金，银，铂，和珠宝）；

自动过滤器，多准直仪(五个准直器，从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台；

性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

仪器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg (net)  

测厚仪，膜厚仪，X射线，XRF，韩国，微先锋，X荧光，镀层

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