测厚仪/测厚仪CHY-C2/测厚规

测厚仪/测厚仪CHY-C2/测厚规

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具体成交价以合同协议为准
2017-07-12 19:00:42
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深圳市方源仪器有限公司

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产品简介

测厚仪/测厚仪CHY-C2/测厚规:.机械接触式测量方法,不受测量材料的限制 .进口优质传感器,测量分辨率高达0.1微米 .进口优质传动元件,保证了试验结果的稳定性、 准确性

详细介绍

测厚仪/测厚仪CHY-C2/测厚规:

适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度精确测量。
 
特征:
 
·机械接触式测量方法,不受测量材料的限制
·进口优质传感器,测量分辨率高达0.1微米
·进口优质传动元件,保证了试验结果的稳定性、 准确性
·测量头对薄膜(纸张)的接触面积、接触压力严格 遵循相关标准
·特殊结构设计,保证上下测量平面的平行
·灵活、方便的配重方式更能满足范围更宽的测量, 非标试验易于实现
·试验数据大屏幕液晶显示,操作按键人性化设计
·可设置手动、自动两种试验模式,测量结果自动 统计、打印
·具有电脑通信接口
·兼容ISO、ASTM等多种测量标准
 
测厚仪/测厚仪CHY-C2/测厚规:
 
结构组成:
 
  本试验仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量,并 输出相应电信号;控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等;打印输出系统的功能是统计结果的输出,打印试验结果。
 
 
 
 
功能原理简述:
 
  本试验仪采用目前世界测量领域的技术成果,确保测量结果的高精确性,多次测量结果的高度*性;且操作调试极其方便,几近于自动化操作,zui大限度地减少了人为因素对测量结果带来 的影响;对于单次测量,仅打印输出测量结果,对于多次测量,可对测量结果进行统计、分析、打印输出;接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。
 
 
 
主要技术参数:
 
测量范围:0~2mm(常规)(0~6mm可选)
分 辨 率: 0.1μm
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);〔50±1kPa(纸张)〕
接触面积:50mm2(薄膜);〔200mm2 (纸张)〕
电 源:AC 220V,50Hz
外形尺寸:300(L)mm×275(B)mm×300(H)mm
净 重:33kg
 
 
标准:
 
GB 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
 
 
 
 
 
操作步骤:
 
上电→设置测量参数→进入测试界面→放置待测薄膜→启动测量→测量结束→打印输出 测量结果→试验结束
注:本测量仪有记忆功能,若下次测量参数与上次相同,可直接进入测量,无须再进行参数设置。
 
 
 
 
配置:
 
标准配置:主机、标准量块一件
选 购 件:通信软件、配重砝码盘、配重砝码(用户要求)
 
 
 
 
 
 
 
 
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