X荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。

　　

　　X荧光光谱仪的物理原理：

　　当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。

　　XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。

　　

　　X荧光光谱仪的主要特点：

　　1、快速：得益于帕纳科荣获的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法，只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。

　　2、前瞻性：如果出现新的应用，只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。

　　3、灵活：无论是工业生产控制还是深入的材料研究，均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量，到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定，系统的应用不受任何限制，在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下，均可对块状材料以及薄膜进行分析。