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事件相关电位系统的测试方法是怎样的

时间:2021-01-17      阅读:1344

   事件相关电位系统使其能够增加更多的通道、更高的数字分辨率,更广的输入范围以及更快的采样率,但在仪器的大小尺寸和耗电量方面却没有任何得增加。电极帽体积更加小巧而且轻便,同时还可以得到更好的采集信号。
 
  事件相关电位系统的测试方法:
  事件相关电位属于长潜伏期诱发电位,测试时一般要求被试者清醒,并在一定程度上参与其中。引出ERPs的刺激是按研究目的不同编制而成的不同刺激序列,包括两种及两种以上的刺激,其中一个刺激与标准刺激产生偏离,以启动被试的认知活动过程。
 
  如果由阳性的物理刺激启动,除了由认知活动产生的内源性成分,尚包括外源性刺激相关电位;如由阴性刺激来启动心理活动过程,则引出由认知加工而产生的内源性成分。
 
  P3为ERPs中重要的内源性成分,现时对它的研究较为广泛。多为神经精神学科研究,如精神分裂症、脑血管疾病和痴呆症、智力低下等,通过研究P3的潜伏期、波幅、波形变化,反映认知障碍或智能障碍及其程度,同时尚应用于测谎研究。另有人将P3、CNV用作观察神经精神药物治疗效果的指标。
 
  事件相关电位的另一内源性成分N2为刺激以后200毫秒左右出现的负向波,反映大脑对刺激的初步加工,该波并非单一成分,而是一复合波,由N2a和N2b两部分组成,N2a不受注意的影响,反映对刺激物理特性的初步加工。
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