ESD是整个电子产业共同面临的问题，影响相当广泛，包括生产、封装、测试、以及搬运等每个环节都会受到ESD的影响，静电往往会累积在人体、仪器和存放设备当中，甚至电子元件本身也会累积静电。因此所有IC都必须通过测试来检测是否能使元件免受ESD的损害，这些测试标准包括人体放电静电模式 (Human Body Model；HBM)、机器放电模式 (Machine Model；MM)，以及与集成电路(IC)封装大小关系密切的元件充电模式 (Charged Device Model；CDM)。

近年来随着科学技术的飞速发展、微电子技术的广泛应用及电磁环境越来越复杂，对静电放电的电磁场效应如电磁干扰（EMI）及电磁兼容性（EMC）问题越来越重视。

在系统层级的ESD保护上，Robert Ashton强调从产品着手的重要性，他说：“ESD的控制对便携产品来说，是必需品，不是选项，业界必须投入更多努力，让电子元件更具备抵抗ESD的条件。目前zui受间多数国家认同的静电测试规范是 IEC 61000-4-2，组织ESDA(静电放电保护工程学会)正着手推展和这个测试规范相关的工作，我们期待能尽快看到成熟且稳定一贯的测试方案。”