双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪
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双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪
双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪

Calpas-T双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-11-10 14:16:47
2480
属性:
产地类别:进口;应用领域:食品,化工,农业,石油;
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产品属性
产地类别
进口
应用领域
食品,化工,农业,石油
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上海韵鼎国际贸易有限公司

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产品简介

Calpas-T双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪,粒子经过转盘时,上下探头360度照射样品,完成*扫描。将筛选出的杂质自动剔除。

详细介绍

双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪

CALPAS-TERMINAL Calpas-T)介绍

上下360°照射,杂质无处藏身

 AI智能识别程序 & 双探头筛分系统

异物检测对于产品质量控制,获得客户信任至关重要。对于产品控制而言,异物检测不仅仅能提升样品的外观质量,更能提高材料的安全性和可靠性。目前市场上的设备在控制异物方面还有一定的局限性,但是异物检测的需求却日益增长。

与此同时,对于异物检测,客户往往对检测速度有着较高的要求,在速度与准度的平衡中,高速的检测通常会降低检出率。另外,市场上对于微小异物的检出需求越来越高,要求设备不断的降低小检出尺寸来满足要求,这对设备的精度又提出了更高的要求,要求在快速检测的流程中设备能够准确的筛选出微小的异物粒子。

为了满足这一需求,Scigentec公司推出了CALPAS-TERMINALCALPAS-TERMINAL基于高速托盘筛分代替传统的重力筛分,大大减少了物料损失。

双探头照明系统可以从样品两侧实时测量,保证测量结果的稳定性和全面性,小检测直径可达10微米。

在测量过程中,我们往往会遇到因为颗粒特性而造成的光学误差(如阴影、透射、反射等),CALPAS AI 程序(可选)可以帮助设备识别因产品原因造成的光学误差,提高准确率,并配合转盘筛分系统实现高效、准确、快速去除异物的目的。

CALPAS-TERMINAL双探头测量筛分系统针对50微米的异物颗粒,可以达到200千克/时的检测速度,是一款使用简单、检测高效的终端质量控制设备。

产品特点

可选配置

双探头转盘式颗粒黑点杂质扫描筛选仪

软件功能丰富适应性广泛,可适应不同种类粒子的材质及形状,一个软件对应多种样品。

CALPAS AI软件具有深度学习功能,可利用人工筛分结果学习训练筛分模式,优化测量结果。

 

透明粒子图像(去除阴影)

不透明粒子图像(去除阴影)

异形分析

 

 

텍스트, 벽, 실내이(가) 표시된 사진자동 생성된 설명

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粒子筛分出口

双探头检测系统

信号输出

内置AI程序

 

 

텍스트, 벽, 실내이(가) 표시된 사진자동 생성된 설명

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CALPAS 检测范围(使用奥林巴斯标准尺OB-MM10µm

 

 

 

 

 

 

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