镀层厚度测量仪通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。

 

镀层厚度测量仪性能特点：

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；

采用高度定位激光，可自动定位测试高度；

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；

高分辨率探头使分析结果更加；

良好的射线屏蔽作用；

测试口高度敏感性传感器保护；

镀层厚度测量仪性能优势：

1.VisualFp基本参数法分析软件，可不用标准样品标定，即对样品镀层膜厚进行测试；

2.除可对金属镀层测试外，还可对合金镀层、铝合金镀层、玻璃镀层、塑料镀层进行测量，开创了XRF对镀层测厚的全面技术；

3.软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度；

4.提供开放式工作曲线标定平台,可为每家用户量身定做*的镀层分析工作曲线；

5.三重射线防护（软件、硬件、迷宫设计），确保操作人员人身安全与意外操作带来的辐射伤害；

6.仪器外部对样品微调设计，降低及防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致的测试不准确性；

7.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求；

8.对达克罗涂覆工艺厚度分析的软件方法，*取代金相显微镜技术在该行业的应用；

9.软件对多次测试结果进行统计分析功能；

10.既可以测试镀层厚度，又可以同时分析基材及镀层成分的XRF。