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韩国进口金属镀层测厚仪

时间:2017-06-13      阅读:594

韩国进口金属镀层测厚仪Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, zui小测量面积为直径为0.1mm的圆面积; 测量范围:0-35um;

韩国进口金属镀层测厚仪其特点为:激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个可选准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的机型。测量精度:误差控制在±5%.

韩国进口金属镀层测厚仪仪器规格及参数

 

 

 

X射线管

油冷式超微细对焦点X射线管

靶材:钨(W)、铝(AL)、钼(MO

管电压:0~50kv

管电流:0.1mA

照射方式

由上往下垂直照射方式

检测器

正比例计数管(PC

仪器校正

密度校正,标准样品校正

检测滤片

Co片,Ni片可选

 

准直器

固定型或自动型

固定型:可选0.10.20.30.40.05x0.3mm

自动型:0.10.20.30.40.05x0.3mm

输入电压

AC220V

温度控制

前置放大及主机温度控制

工作温度

室温(22~25℃)

真空样品室

排气所需时间

没有

可测量元素范围

钛(Ti)—铀(U

可测量厚度范围

原子序:22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um

测量时间

10~30s

操作接口

Windows XP

 

标准曲线

.自动做标准曲线功能

.多点标准曲线

.标准曲线的曲线表示

 

 

测量功能

.常规测量(自动测量功能)

.设定输出方式功能

.确认测量位置功能

.自动测量条件设定(管电流,1次及2次滤波器,ROINF滤波器设定)

.薄膜FP法软件

 

 

 

自动测量功能

.测量位置的(XYZ

.用鼠标在画面上输入

.同一式样的重复测量功能

.确认测量位置功能(图示)

.原点的设定功能(可记忆每个档案的原点)

.保存原点的影像功能

.原点的补正功能(位置滑动角度补正功能)

 

补正功能

.底材补正

.已知样品补正

.自已输入补正(密度补正)

 

 

 

定性分析功能

KLM标示

ROI设定数:50

.能谱表示功能

.能谱比较标示功能(2段标示.重叠对照标示.扣除标示)

.坐标尺寸设定功能(强度、能量)

.能谱,样品画面的保存功能

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