产品简介
Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。其特点为：雷射自动对焦、全自动XYZ样片台、Point and Shoot 自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、具有竞争力的价格、五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破坏性器的*机型。
详细介绍
X光无损非接触测量，只需10-30秒即可获得测量数据，zui小测量面积为直径0.1mm圆面积，测量范围：0-35um,测量误差：5%以内。
