谷物面粉分析仪NIR-MS-3000F采用近红外透射光谱法测量谷物和油籽中蛋白质,油分和水分含量,在进口谷物面粉分析仪品牌中具有较低的谷物面粉分析仪价格。

谷物面粉分析仪为农民，粮食购买者,面粉厂,面食生产者和谷物加工者提供了一种快速的方法来确定谷物的组成，不需要研磨样品,简单易用。同样的系统测量全麦小麦以及面粉和膳食。
谷物面粉分析仪可与SeedCount图像分析系统和Specktek软件相结合，提供完整的小麦和面粉测量系统。
谷物面粉分析仪应用：
小麦蛋白质和水分
面粉和粗面粉中的蛋白质，水分，灰分，吸水和淀粉损伤
在面粉和粗面粉斑点
膳食中的蛋白质和水分
蛋白质，水分，油和淀粉在大豆，玉米，大米和其他谷物和油籽。
蛋白质，水分和油在玉米粉，米粉，豆粕和其他加工粮食产品。

谷物面粉分析仪F是台式面粉分析仪，专为快速测量小麦，大麦和其他谷物中的蛋白质和水分而设计。 包括面粉，粗粒小麦粉，羽扇豆粉，豆粕，大豆粉，玉米粉和粉末的粉末可以在容易装载和清空的5mm深的旋转盘中测量。 多可以收集30个副扫描的颗粒或粉末，平均提供出色的准确性和精度。 触摸屏PC为用户提供了一个简单易用的界面。 一旦NIR分析仪已经预测了所需的参数，软件会提示一组定制的数据字段。 操作员输入以下信息：
示例ID
测试重量和筛选重量
存储位置
品种
标号
来源（农场，围场或供应商）
货物ID。
谷物面粉分析仪规范：
触摸屏操作
测量小麦蛋白质和水分
测量面粉和粗面粉中的蛋白质，水分，灰分，吸水性和淀粉损伤
地磅软件可用
互联网软件可用。
一旦数据字段完成，信息被存储在机载存储器中，然后可以被发布到可以从智能手机，平板电脑或PC获取它的网站。 按下按钮即可获得报告：
列表结果
光谱
趋势图
箱平均每个筒仓，掩体或棚子。
近红外透射（NIT）全谷物和面粉分析：
下图显示了谷类，油料种子和面粉的NIT谱图。
光通过麦片或面粉的样品，并且NIR光能被吸收，与蛋白质，水分和淀粉的浓度成比例。 在特定波长吸收的光越多，蛋白质，水分和淀粉的浓度就越高。
已经开发了校准模型来将样品吸收的光量与每种组分的浓度相关联。 这些校准被存储在内存中，并用于预测进入的谷物和面粉样品中的蛋白质，水分和其他成分。
图像分析系统和Specktek软件：
触摸屏操作
测量长度，宽度，厚度
措施颜色
措施缺陷和破碎的种子
措施包括镰刀菌，黑荆棘，黑麦，黄莓
面粉产量
面粉和粗面粉的措施。
它包括一个高分辨率的扫描仪，多样品托盘系统和一套强大的图像分析程序来测量谷物，面粉和粗面粉的物理特性
谷物面粉分析仪如何工作：
从灯中发出的光，通过谷物或面粉的样本。
光从颗粒或面粉的表面反弹，并通过样品传播，直到到达另一侧。新出现的光线聚焦于平场光谱仪的狭缝中，该光谱仪在720-1100nm波长范围内将光线分离成各个频率。
然后将分离的光导向硅光电二极管阵列检测器。该阵列检测器测量每个频率处的光的强度以产生所谓的样品的NIT光谱。
在电磁波谱的这个区域内，N-H（蛋白质），C-H（脂肪和油）和O-H（水）和C-O-H（碳水化合物）吸收特定波长的NIR光。 NIT谱包含有关这些组分浓度的信息。存储在MRC计算机中的校准模型将该信息转换为％蛋白质，％水分，％油，％淀粉，吸水率和淀粉损伤，并将结果显示在屏幕上。
种子散布在样品盘上并插入扫描仪模块。
SeedCount软件绘制每个种子周围的边界，并使用边界内的像素来定义每个参数。从面粉或粗粒面粉的100×100mm扁平样品收集4个黑白扫描。测量这些扫描中每个点的强度，软件确定黑色和棕色斑点。
四个扫描的平均值显示为黑色大数据，
棕色，斑点，黑色/大ppm，棕色ppm。报告可以打印或存储。
谷物面粉分析仪规格参数
波长范围：720-1100nm
光学探测器：硅二极管阵列
扫描速度：2-4秒
光源：汞灯10W
样品托盘长度：8mm,16mm,24mm
显示：触摸屏
电源：110-240VAC
重量和尺寸：12kg, 400x400x330mm
工作温度：5-45°C