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薄膜测厚仪怎么使用?测厚仪的使用方法

时间:2024-07-23      阅读:320

  本信息由济南兰光机电技术有限公司发布提供。

  以CHY-C2A型号薄膜测厚仪为例。薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

准备工作

检查设备:确保测厚仪CHY-C2A电量充足或已正确连接电源,检查外观是否完好,显示屏是否清晰可见。

选择合适的探头:根据被测材料的类型和特性,选择合适的探头。薄膜材料按相关测试标准测量头接触面积为50mm2;而纸张测量厚度的测量头接触面为200mm2。

样品准备:被测样品表面应平整、无污垢、油脂、氧化层或其他可能影响测量精度的杂质,确保表面干燥且无残留物。

厚度测量

摆放试样:将被测样品平整的平铺于测量台面上,保持试样整洁、干净、平整无褶皱。可通过人为挪动试样,进行多点厚度测量。

测试原理:薄膜测厚仪采用机械接触式测试方法,是通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。

进行测量:测试前,仪器的测量头落在设备砧板上,传感器读取测量头的初始位移值,测量头抬起后,将试样放置在砧板纸上,测量头以同样的压力落在试样上,传感器读取测量头的位移值,两次位移值之差则为试样的厚度值。

读取结果:测量完成后,测厚仪的显示屏上会显示出测量的厚度值。记录测量结果,包括测量点的位置、日期和时间,以及任何可能影响测量精度的因素。

注意事项

保持机器清洁:非试验用时间,需覆盖防尘布于整机,保持机器及周边环境清洁。

正确操作:操作人员在熟悉设备使用手册及电器原理的基础上进行操作,严禁擅自拆卸本机。

避免干扰:测量时应确保周围无电磁磁场干扰仪器工作。

重复测量:为了提高测量的准确性和可靠性,建议在同一位置或多个位置重复测量几次,并取平均值作为最终结果。

  遵循以上步骤和注意事项,可以确保薄膜测厚仪CHY-C2A的正确使用和测量结果的准确性。Labthink兰光,致力于通过包装检测技术提升和检测仪器研发帮助客户应对包装难题,助力包装相关产业的品质安全。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流。

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