高温超声波测厚仪的测量误差受多种因素影响，不同型号的仪器测量误差也有所不同，以下是一些常见的情况：

- 仪器自身精度：如LA-30高温超声波测厚仪，测量范围在1.0-99.9mm时，误差为±(5h‰±0.1mm)；测量范围在1.0-225.0mm时，误差为±(1h%+1)mm。

- 探头类型：不同探头测量精度有别，需配高温耦合剂，未明确给出误差范围，但通常高温探头在高温环境下的误差比常规探头大。

- 耦合效果：耦合剂的种类、使用量及涂抹方式等影响耦合效果，进而影响测量精度。若耦合剂选择或使用不当，会产生较大误差，如耦合剂过多，仪器示值可能为耦合剂层厚度值。

- 材料特性：不同材料声速不同，若声速选择错误或材料内部存在缺陷、应力等，都会导致测量误差，如层叠材料、复合非均质材料等特殊材料，测量难度大，误差也相对较大。

- 测量环境：高温环境会使材料声速发生变化，一般固体材料温度每升高100°C，声速下降1%，若不进行温度补偿校准，会产生较大误差，此外，测量时的环境温度、湿度等也可能对仪器性能及测量结果有一定影响。

- 操作因素：操作人员的技术水平和经验也会影响测量结果，如探头放置位置、施压大小、测量角度等，若操作不当，也会引入误差。

ORIETG®系列X2测厚仪，采用电磁超声EMAT传感器技术，具备超声测厚与涡流涂层测厚功能，是一款无需声耦合剂、

非接触式厚度测量仪器，可实现金属或导磁性物质的厚度测量和表面涂层厚度测量。