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SciAps-x-5合金分析仪规格说明

时间:2024-01-16      阅读:604

全新设计的X-50是市场上表现的手持式XRF,使用经典的PiN二极管探测器技术。这款高性价比的XRF为检测器平台提供了的分析性能和速度,运行速度为其他品牌的2倍或更高。SciAps强大的小型化X射线管与高度先进的内部几何结构相结合,可进行快速、精确的测试。

重塑经典

X-50使用经典的“久经考验”PiN二极管技术及X射线技术为过渡金属和重金属提供的基础分析。对于那些不需要测量Mg,Al,Si,S或P的用户,X-50是wanmei选择。我们重新设计了这一经典的探测器技术,并为其配备了更多的功能:内置高分辨率摄像机用于查看样品,如焊缝;用于照片记录或2D/3D条形码读取和存储的微距相机。

标准元素包

X-50使用与其他SciAps X系列型号(最大工作电压为40 kV)相同先进的X射线管技术进行测试,包括:Ti,V,Cr,Mn Fe,Co,Ni,Cu,Zn,W,Ta,Hf,Re,Se,Au,Pb,Bi,Zr,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb,也可以根据要求添加更多的元素。

Android与数据管理

操作安装Android系统的X-50如同在使用一部智能手机。通过使用蓝牙,Wi-Fi和USB,用户可以打印,发送电子邮件并连接到几乎任何信息系统以获取实时数据。板载微距相机允许记录照片文档,蓝牙标签打印机提供即时硬拷贝标签。

规格说明:

重量

1.40kg(含电池)

外形尺寸

938mmx 283mmx 4mm

激发源

标配4 W,40kV铑靶X射线光管,50 kV可选

探测器

7 mm² PiN二极管探测器(有效区),在5.95 Mn K-alpha线处的FWHM为200eV分辨率。

应用领域

合金分析,贵金属,土壤,矿石,汽车三元催化等

X射线滤光片

单个滤光片用于合金分析;多个滤光片用于贵金属,土壤,矿石,汽车三元催化

使用环境温度范围

-12℃- 55℃

分析范围

根据不同应用要求可测量24种元素,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,W,Ta,Hf,Re,Se,Au,Pb,Bi,Zr,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb.也可根据用户要求添加其他元素。

运算单元和主处理器

112GHz四核ARM Cortex A5364/32位,RAM:2GB LP-DDR3,存储:16 GB eMMC(存储)

脉冲处理器

12位数模转换,80MSPS采样率,8K通道MCA,USB2.0高速数据传输至主处理器;FPGA应用数字滤波用于高吞吐量脉冲处理(20 nS- 24 uS峰值时间)。

电源

插拔式可充电锂电池,可在设备内部充电或使用外部充电器充电,交流

电源。支持热插拔更换电池。

显示屏

3.5英寸(88.9毫米)彩色电容式触摸屏— 400 MHz Qualcomm Adreno 3062D/3D图形加速器

样品监测

内部摄像头,用于在分析前和分析期间查看样品,以便正确对准样品。

微距相机,用于扫描二维码或条形码以及照片文档和报告生成。

通讯/数据传输

Wi-Fi、蓝牙、USB可连接到大多数设备,包括SciAps Profile BuilderC软件。提供SciAps云数据管理选项。

校准方法

FP基本参数法

校准检查

外部316不锈钢标准样品,用于校准验证和能量标度验证

安全

密码保护使用(用户级别)和内部设置(管理员)

双摄像头模式

内部高分辨率相机用于样品查看、焊接等。微距相机用于照片文档、读取

和存储2D/3D条形码和QR码。

规范

CERoHS,USFDA认证 符合加拿大REDAct.



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