超组合——AFM和GISAXS表征多孔薄膜

在这个世界上个体的力量是有限的，

80/90的小伙伴们都知道，

在龙珠里

悟空和贝吉塔的合体

才是燃时刻

才能打败强大的敌人！

做实验也是一样的道理哦！

使用Tosca™ 400和SAXSpoint 2.0系统

来表征垂直基底的多孔结构聚合物薄膜。

掠入射小角X射线散射（GISAXS）

是一种用于分析纳米尺度表面结构

高度灵敏的测量方法

给出一个大样品面积上的平均信息。

原子力显微镜（AFM）能提供

局部表面结构的高空间分辨率的直接可视信息。

这使得两种方法在纳米结构表面表征上互补。

Anton Paar –让膜研究更易进行

纳米孔膜具有高超的潜力

如：现代电池和能量转换应用，以及水处理领域。

这类样品的孔隙结构的表征

对它的性能是极其重要的。

这里我们展示的是对厚度为100 nm

垂直硅基底的多孔高分子膜的表征。

 Tosca™ 400 – 高度自动化工业AFM提供的图片分辨率和高样品通量。

SAXSpoint 2.0 – 多用途点准直SAXS仪器，提供高分辨率和光通量，使得它成为膜研究的工具。

Fig. 1: 纳米多孔PE/PEG薄膜水平方向一维切面的二维GISAXS图样（左）和AFM形貌图（右）。

左边的图是用SAXSpoint 2.0系统研究结构的GISAXS图样。从反射图上计算得到孔-孔间距大约50 nm。从相应的反射位置（见插图）看，孔的六方排布可见。

右边的图显示的是相应的AFM形貌图，使用Anton Paar新的AFM Tosca™ 400获得。它证实了孔是六方排布，周期性50 nm和平均孔直径为20 nm。

超组合——AFM和GISAXS表征多孔薄膜

在这个世界上个体的力量是有限的，

80/90的小伙伴们都知道，

在龙珠里

悟空和贝吉塔的合体

才是燃时刻

才能打败强大的敌人！

做实验也是一样的道理哦！

使用Tosca™ 400和SAXSpoint 2.0系统

来表征垂直基底的多孔结构聚合物薄膜。

掠入射小角X射线散射（GISAXS）

是一种用于分析纳米尺度表面结构

高度灵敏的测量方法

给出一个大样品面积上的平均信息。

原子力显微镜（AFM）能提供

局部表面结构的高空间分辨率的直接可视信息。

这使得两种方法在纳米结构表面表征上互补。

Anton Paar –让膜研究更易进行

纳米孔膜具有高超的潜力

如：现代电池和能量转换应用，以及水处理领域。

这类样品的孔隙结构的表征

对它的性能是极其重要的。

这里我们展示的是对厚度为100 nm

垂直硅基底的多孔高分子膜的表征。

 Tosca™ 400 – 高度自动化工业AFM提供的图片分辨率和高样品通量。

SAXSpoint 2.0 – 多用途点准直SAXS仪器，提供高分辨率和光通量，使得它成为膜研究的工具。

Fig. 1: 纳米多孔PE/PEG薄膜水平方向一维切面的二维GISAXS图样（左）和AFM形貌图（右）。

左边的图是用SAXSpoint 2.0系统研究结构的GISAXS图样。从反射图上计算得到孔-孔间距大约50 nm。从相应的反射位置（见插图）看，孔的六方排布可见。

右边的图显示的是相应的AFM形貌图，使用Anton Paar新的AFM Tosca™ 400获得。它证实了孔是六方排布，周期性50 nm和平均孔直径为20 nm。