镀层测厚仪的原理及优势
时间：2023-02-27 阅读：1111
镀层测厚仪原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层。
优势：
1.测量速度快，具有单次和连续测量方式可选择。
2.精度高，自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。
3.镀层测厚仪稳定性高，操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示。
4.功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。