便携式镀层测厚仪的测量原理与精度
时间：2023-11-28 阅读：597
便携式镀层测厚仪的测量原理有多种，包括X射线法、β射线反向散射法、电容法等。其中，X射线和β射线法为无接触无损测量，适用范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层和合金镀层，β射线法适合测量底材和镀层原子序数大于3的镀层。电容法仅用于薄导电体的绝缘覆层测厚。
便携式镀层测厚仪的精度因型号和品牌而异，但通常在一定范围内。一般来说，精度较高的测厚仪会有更小的测量误差，但价格也相对较高。在选择测厚仪时，应根据实际需求和使用场景选择合适的型号和品牌。
此外，便携式镀层测厚仪的精度也受到多种因素的影响，如样品表面的粗糙度、涂层的形状和厚度、测量点的位置和数量等。因此，在使用测厚仪时，应注意样品的选取和处理，以及正确的操作方法和测量姿势，以确保测量结果的准确性和可靠性。