双边同时扭的弯扭试验机

HY(IC)双边同时扭的弯扭试验机

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2024-06-30 10:13:00
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上海衡翼精密仪器有限公司

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产品简介

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详细介绍

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HY(IC)IC卡动态弯扭试验机技 术 参 数:
本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1,国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; *符合以上标准。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,总扭曲角度30°
长边zui大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
长边zui小位移量为2mm±0.50mm,
短边zui大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
长边zui小位移量为1mm±0.50mm,
夹具安装尺寸*按照国家标准执行。


3、产品用途:
  用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。


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 公司承诺:
1.购机前,我们专门派技术人员为您设计*的流程和方案
2.购机后,将免费指派技术人员为您调试安装
3.整机保修一年,产品终身维护
4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用

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