测厚仪测量需注意
时间：2014-10-30 阅读：2162
1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2、测量时侧头与试样表面保持垂直。
3、测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7、在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
Nanocalc系列测厚仪的特点：
1、UV/VIS/NIR高分辨率的配置
2、测量准确度在1nm，精度在0.1nm
3、可测量4层薄膜的任意3层
4、薄膜测量zui小可至10nm，zui大可至400um
5、可测量zui小1nm厚的透明金属层
6、提供用于复杂外形材料测量的试验台及附件
7、对表面缺陷和光滑度不敏感
8、庞大的材质数据库，保证各种材料的测量