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荧光显微镜|XSP-63XDV.光学厂*荧光显微镜
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面议上海光学立式光学计LG-1点和应用方向：立式光学计LG-1是一采用量块或标准零件与试件相比较的方式来测量物体外形尺寸的仪器.主要用于五等精度量块,一级精度柱型规以及各种圆柱形、球形、线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，亦可用来控制精密零件…
2上海光学立式光学计LG-1 产品参数
被测件大长度 | 180 mm |
直接测量范围 | ±0.1mm |
分划板分度值 | 1um |
总放大倍数 | 1000X |
测量力 | (2±0.2) N |
示值变动性 | 0.1 μm |
大不准确度 | ±0.25 μm |
读数方式： | 分划板读数 |
大测量误差 | ±(0.5+L/100)μm ，L是被测长度,以mm计 |
仪器体积 | 340*160*410mm |
仪器重量 | 30kg |
3上海光学立式光学计LG-1成套件
1 | 可调带筋园台 | 5 | 平面测帽 Ф8 |
2 | 可调园平台 | 6 | 小球面测帽 |
3 | 带筋固定方台 | 7 | 刃形测帽 |
4 | 平面测帽 Ф2 | ||
