当样品在高能X射线照射时，会导致原子内层电子跃迁并产生暂时的空位，同时处于不稳定态的原子捕获外层电子迅速填充这些空位。在此过程中，由跃迁释放的能量以荧光X射线的形式放出，荧光 X 射线能量特征则与样品中存在的每个元素相关，X射线荧光分析仪可通过捕获这些被释放的X射线，确定样品中特定感兴趣元素的浓度。


瑞士万通2060 XRF过程分析仪在能量色散X射线荧光家族中独树一帜。其设计着重于质量和过程控制并考虑到多个采样点和用户友好操作。

1、免试剂无损分析

2060 XRF过程分析仪是瑞士万通过程分析针对液体样品中镁到铀元素（z=12至92）新开发的过程分析仪,。XRF分析作为一种非接触和免试剂分析技术，它不仅将样品污染的风险降至非常低，而且能有效地减少废液排放。

2、功能强大

为使XRF分析理想化，2060 XRF 分析仪搭载了过程分析技术（PAT）先进的专业软件。该过程分析仪预装两套专业软件：IMPACT和VantaTM。IMPACT作为用户界面,实现智能编程、结果显示以及与工厂控制室的通信。VantaTM管理处理分析数据。两套软件的组合使2060 XRF 过程分析仪成为在线监控的工具,为过程分析提供了更大的帮助。

3、一个分析平台完成不同分析

2060 XRF过程分析仪连续收集数据,全天候无缝运行。其先进的编程能力结合引入的功能增强了工厂的安全性。通过智能条件操作，分析器可以主动监控关键参数,用户能够实时做出明智的决策。如果样本偏离设定的限制，分析仪能快速反应调整分析频率或触发，如滴定、光度法或加标分析等辅助分析。