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奥林巴斯38DL plus测厚仪技术参数

时间:2023-08-31      阅读:425

奥林巴斯38DL plus测厚仪

主要特性

  • 可与双晶探头和单晶探头兼容

  • 宽泛的厚度测量范围:0.08毫米到635毫米,具体可测厚度根据材料和所选探头而定

  • 使用双晶探头进行腐蚀测厚操作

  • 穿透涂层(THRU-COAT)和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料

  • 内部氧化层/沉积物软件选项

  • 对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米

  • 在使用频率范围为2.25 MHz ~ 30 MHz的单晶探头时,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量

  • 多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量,最多可同时测量4层

  • 高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料

  • 厚度、声速和渡越时间的测量

  • 差分模式和缩减率模式

  • 时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可回顾的读数

  • 带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态增益技术

  • 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能

    设计符合EN15317标准

  • 标准配置

  • 38DL PLUS数字式超声测厚仪,交流电源或电池供电,50 Hz ~ 60 Hz。

  • 标准双晶探头的套装

  • 充电器/AC适配器(100 VAC、115 VAC、230 VAC)

  • 内置数据记录器

  • GageView接口程序

  • 试块和耦合剂

  • USB线缆

  • 橡胶保护套,带有仪器支架和颈挂带

  • 《用户手册》

  • 两年有限质保

  • 测量功能:

  • 穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、最小值/最大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/最小值模式



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