HIOKI/日本日置 品牌
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日置ST5680EOL直流耐压绝缘电阻测试仪
为电池的安全测试提供更优化的检测方案，通过波形分析提升电池的检测品质
● 准确检查绝缘性能，验证电池和电机质量
● 通过波形和数值显示有助于优化生产工序、对收回的不合格产品进行分析、宣传检查的可靠性
● 防止因电弧放电导致微小故障品流出
● 防止误判导致的复测
● 支持广泛的国际标准。搭载BDV（绝缘击穿电压）测量功能。
日置ST5680EOL直流耐压绝缘电阻测试仪
| 主要功能 | 直流耐压测试、绝缘电阻测试、绝缘击穿电压测试、波形显示功能、ARC放电检测功能、接触检查功能 (详情请参照“各测试·功能”表) |
|---|---|
| 功能一览 | 联锁、自动放电、消除偏移、瞬时输出、命令监控、I/O HANDLER、按键锁定、自检、校准期限检测、EXT SW（远程控制） |
| 使用温湿度范围 | 0°C～40°C，80% RH或以下（无结露） |
| 适合标准 | 安全性：IEC 61010 EMC：IEC 61326 |
| 电源电压 | AC 100 V ～ 240 V |
功耗 | 约180 VA※ ※ 电源条件为电源电压220 V、电源频率 50/60 Hz、测试模式直流耐压测试、测试电压2.5 kV、负载电流5 mA负载电阻500 kΩ）的情况下。 |
最大额定功率 | 800 VA |
接口 | 通讯：USB，LAN，EXT. I/O 选件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000） 存储：U盘 |
尺寸·重量 | 305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） |
附件 | 电源线，CD-ROM（PDF：使用说明书，通讯使用说明书），EXT.I/O用公头连接器，EXT.I/O用连接器盖EXT.I/O用联锁解除治具，启动指南 |
| 直流耐压测试 | 输出电压：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率) 输出设置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 输出电流/截止电流：20 mA max 电流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最小分辨率：0.001 μA 测试时间：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 电压上升/下降时间：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路电流200 mA 以上 测试模式W→IR，IR→W，程序测试 |
|---|---|
| 绝缘电阻测试 | 输出电压：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率) 输出设置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 电阻值显示范围：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）精度保证范围：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 电阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*详情参考下部表格 测试时间：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 电压上升/下降时间：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF |
| 绝缘击穿电压测试 | 测试方法：连续升压测试，逐级升压测试 测量内容：绝缘击穿电压（kV），绝缘击穿的强度（kV/mm） 设定内容：初始电压，结束电压，升压速度，ARC检测，电极间距离，电流上限值 检测有效电压：150V以上 |
| 波形显示功能 | 波形显示内容：电压，电流，绝缘电阻 采样速度：500 kS/s 内存容量：512 K words |
| ARC放电检测功能 | 检测方式：监视试验测试电压的变动 设定内容：测试电压变动率1％～50％ 检测有效电压：150V以上 |
| 存储功能 | ·波形·图形 ·面板保存功能 ·数据存储功能 |
| 判定功能（判定输出） | 判定为PASS，判定为FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） UPPER_FAIL：测量值＞上限值 PASS：上限值≥测量值≥下限值 LOWER_FAIL：测量值＜下限值 |
| 注记（*1） | 环境温度t不足5℃时加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 环境温度t超过35℃时加上±(1% rdg.×(t-35 ) ) |
| 测试范围 | 100 kΩ ～ 99.99 GΩ | |
|---|---|---|
| 10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ | ±(20% rdg.) |
| 100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ | ±(5% rdg.) |
| 1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ | ±(2% rdg. + 5 dgt.) |
| 10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 100 μA ≦ I ≦ 20 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 注记（*2） | · 测试电压为50 V〜99 V时，测量精度加算±10% · 测试电压为100 V〜999 V时，测量精度加算±5% · 测试电压为1000 V〜2000 V时，测量精度加算±2% · 环境温度t小于5℃时，加上测量电流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上测量电流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 环境温度t超过35℃时，加上测量电流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上测量电流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 测定速度为FAST2时，测量精度加倍 | |
