氧化膜涡流测厚仪TT230

产品概述：

氧化膜涡流测厚仪TT230是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。

氧化膜涡流测厚仪TT230可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；

该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

符合以下标准：

GB/T 4957-1985 涡流方法；JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》；JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪；

功能特点：

采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）；

可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）；

具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据；

设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差；

具有米、英制转换功能；

具有打印功能，可打印测量值、统计值；

具有欠压指示功能；

操作过程有蜂鸣声提示；

具有错误提示功能；

具有自动关机功能；

技术参数：

测头类型：N；

测量原理：电涡流；

测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬） ；

低限分辨力：1µm（10um以下为0.1um）；

探头连接方式：一体化；

示值误差： 一点校准（um）：±[3%H+1.5]；

两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]；

测量条件： zui小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10；

基体zui小面积的直径（mm）：ф5；

zui小临界厚度（mm）：0.3；

温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH；

统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差；

工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）；

测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

上下限设置：无；

存储能力：15个测量值；

打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑；

关机方式：自动；

电源：二节3.6V镍镉电池；

外形尺寸：150×55.5×23mm；

重量：150g；

基本配置

主机；

铝基体；

标准片一套；

充电器；

使用说明书；

合格证书。

氧化膜涡流测厚仪TT230

氧化膜涡流测厚仪TT230

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