激光全谱分析技术是基于激光脉冲聚焦到被测样品上所产生的物质电离过程，电子的复合会发光，收集并研究该光谱就可以分析被测物质的成分。 该技术zui初是由美国 Los Alamos 国家实验室的 David Cremers 研究小组在二十多年前发明的。从此以后，成功地被用于痕量元素的检测和恶劣环境下的在线成分分析等应用中。
根据所分析的元素不同， 激光全谱分析技术可以探测到 ppm 到 ppt 级的含量。而且不需要对所测样品进行预加工（如抛光，溶解等），可以分析固态和气态样品。