美国RHK推出新代革命性扫描探针显微镜控制平台R9plus
时间:2017-03-10 阅读:1486
继美国RHK Technology公司推出的革命性扫描探针显微镜控制平台R9取得大成功之后,其研发团队通过升软硬件及功能隆重发布新代R9plus控制器。基于*的单箱集成,R9plus将无限的灵活性,精心设计的实用功能和*的设备稳定性巧妙结合在起。R9plus细化和扩展的固件、软件,以及进步化的模拟电路提供给用户的性能和体验。
相比于R9控制器,升后的R9plus(图1)点主要有:全新的FPGA固件构架大地提高了配置灵活性,对于测量提供有60多个可用的数据通道,数据流和扫描速度均提高5倍,模拟电路噪声水平降低到原来的1/4,锁相放大器的解调带宽增加至100KHz,个控制器可以运行两个立的扫描探针显微镜(SPM)和设置任意密度的网格点进行图谱测量等。
图1:R9plus便捷的单箱集成 |
图2:R9plus更低的噪声水平 |
R9plus允许高质量图像和谱图数据的采集。用R9plus采集扫描隧道谱图,即网格谱线数据,允许实时显示10条阈值谱线(图3)。谱线的每个像素点可以单显示和分析。谱线数据可以取平均值用于与衬底的噪声进行比较。
图3:硅的网格扫描隧道谱图 |
R9plus对于原子力显微镜(AFM)的控制也有大的势。,其多个内部集成的锁相放大器可以探测针尖-样品间非线性相互作用机制;其次,通过表征非接触原子力显微镜(Non-contact atomic force microscope)和频率调制开尔文探针显微镜(Frequency-modulated Kelvin probe microscope)结合技术中的边带振幅,NC-AFM锁相环(phase lock loop)的带宽可以与开尔文测试分离,由此可以更快地扫描且噪声更低。再次,两个锁相环可以同时立地测试双探针NC-AFM。zui后,提供个切换开尔文探针不同模式的开关键,且可以同时测量2*ƒBias and 3*ƒBias由此得到 dC/dZ和dC/d号。
图4:边带频率调制开尔文测量噪声较低 |
R9plus基本功能可被初学者快速掌握,使用方便,同时R9plus的灵活性又适用于用户,可突破限制,灵活设计更加符合实验需求的功能和模式。对于任何别的用户体验和简单或苛刻实验步骤的任何阶段,R9plus以其*充分整合的内部电路、直观的图形用户界面,易于定制的硬件描述语言,zui高的数据完整性,有的诊断工具,zui低的噪音和zui高的速度为用户提供有力的支持。
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