[报告简介]

    轻敲模式Tapping AFM-IR+是AFM-IR技术（也称为PiFM, PTE and PTIR）新检测模式，该技术通过探测AFM微悬臂对样品光-热膨胀的响应信号，实现样品局域红外吸收信号的测量。

    我们将现场演示：在10 nm空间分辨率下，对聚合物复合材料的化学组分进行纳米尺度红外成像，以及红外光谱和高光谱测量。

    您将了解到neaspec如何实现：

    ☛  无机械外力干扰下和无伪影信号的红外吸收谱测量

    ☛  样品无损条件下，得到的质数据

    ☛  无需实操经验下即可获取高质量信号

 [主讲人]

Stefan Mastel博士和Sergiu Amarie博士

[报告时间]

2020年10月15日（星期二） 11:00 PM-12:00 PM (CST) 

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