NanoMOKE3是新代超高灵敏度磁强计和克尔显微镜，灵敏度高达10^-12emu，是研究磁性薄膜以及磁性微结构理想的测量工具，在自旋/磁电子学、磁性纳米技术、磁性随机存储器、GMR/TMR、记录磁头、磁传感器等研究域有着广泛的应用。磁光克尔测试属于光学测试，对样品的振动有着定的要求。传统的低温磁光克尔测试通常使用低振动的液氦恒温器来进行，这种恒温器往往不能兼容纵向和向磁光克尔测试，且使用者需要多次采购和传输使用液氦，实验过程比较繁琐，也给实验室增加了大量液氦成本。

      2018年6月，Quantum Design在美国加福尼亚大学圣迭戈分校Ivan Schuller教授实验室成功安装了套集成NanoMOKE3与5nm别超低振动的Montana无液氦低温恒温器的磁光克尔测试系统，实现了4.5K~325K下的纵向0.47T/向0.35T的磁光克尔测试，为低温下的磁光克尔测试带来了新的方向。

图1 ：磁光克尔测试系统NanoMOKE3+Montana无液氦低温恒温器

设备集成外观

      Schuller教授团队的研究方向之是制备和研究新型微纳米结构，如量子点、磁性异质结构、二维铁磁线和维铁磁链等。“低温磁光克尔测试系统可灵活安装配置样品，允许我们进行原位磁光和磁输运测试”，Nicolas Vargas研究员说：“我们小组目前正在研究混合异质结构（V-Oxide/FM）在结构相变（SPT）-温度依赖性期间的磁性和反射率行为，这套系统的安装，将对我们的实验提供非常大的帮助。”

      设备安装成功后，工程师对垂直磁各项异性薄膜Ta(4 nm)/Pt(10 nm)/CoFeB(0.6 nm)/Pt(2 nm)进行了4.5K下的向克尔测试（如图2所示），结果显示该样品在单次循环无平均下的噪声仅为5%。随后又对该薄膜进行了4.5K下的克尔成像测试（如图3所示），左上角显示为饱和磁化时的成像，顺时针方向为磁场逐渐减小至反向饱和时的成像，可以明显的观察到磁畴的变化。

图2：CoFeB薄膜4.5K下向克尔测试

左：60秒平均测试结果 右：单次循环1秒（总测试时间）无平均测试结果

图3：CoFeB 薄膜4.5K下的磁畴成像观测

      除了向克尔测试，工程师还对坡莫合金微带线（25-um 宽, 24-nm 厚）进行了5.5K下的纵向磁光克尔测试（如图4所示），结果显示该样品单次循环即可得到*的克尔测试信号，噪声仅为3%。

图4：坡莫合金微带线5.5K下的纵向磁光克尔测试
左：微带线结构 中：60秒测试平均结果 右：单次循环1秒无平均结果
 

      这套系统除了集成为低温磁光克尔测试系统外，也可以分成室温磁光克尔和低温恒温器等两套系统单使用。已经购买了Montana C2恒温器或者NanoMOKE3磁光克尔系统的用户，也可以在此基础上升为无液氦低温磁光克尔测试系统！