光谱式测量为CCFL、LED背光LCD及OLED等平板显示技术提供了zui高精度的亮度、色度测量。现有的光谱式测量的主要不足是需要很长的测试时间。Photo Research的A-TAKT™系列光谱式辐射度计弥补了这一不足，实现了光谱式精度的实时产线测试。
A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL，针对FPD产线测试不同测试应用。具有如下总的特点：

1、V-7HS是三者中灵敏度zui高、测试速度zui快的机型，可在不影响测试度和重复测试精度的前提下，zui短时间内实现zui大数量的产品测试——毫秒时间内实现低亮度测试，在仅250ms的测试时间内实现0.5cd/m²的微弱亮度测试（测试LED背光LCD）；几秒钟内实现完整的灰度等级、Gamma和色度测试（取决于亮度等级和测试数量）等。

V-7HS：高精度，快速测量，针对于低亮测试应用

2、V-7WD则提供了高速测量的解决方案，针对高亮背光模组、LED模组等高度和重复精度的*化测试。具备更宽的亮度测试范围：0.002-60000 cd/m²（如测试白光LED），近乎实时的快速、高、高重复性光谱辐射度计。

V-7WD：快速，高光谱分辨率，适用于高亮发光源测试

3、而V-6AQL则专为简洁的工业检测量身定制，针对关键环节的测量，如AQL、IQC及OQC等提供的解决方案。一方面具有更低成本，另一方面光谱式设计保证度和重复精度，满足或优于客户的生产需求。

V-6AQL：经济、便携的解决方案，适用于QC/QA测试

4、灵活的定制——由于产线测试环境的不同（如工作距离、测试区域和系统控制接口等），如上述表格，A-TAKT™系列提供有不同配置，包括镜头的定制（满足不同工作距离、光斑尺寸的测试需求），易于开发的SDK包以更快捷、轻松集成到用户的ATE系统， 针对不同测试对象的“EasyProfile”自分析技术等。