X荧光测厚仪采用二次荧光法的原理及性能特点
时间：2021-05-19 阅读：2013
X荧光测厚仪采用二次荧光法：它的原理是物资经X射线或粒子射线照射后，由于吸收过剩的能量而酿成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物资必需将过剩的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度丈量仪或成份分析仪的原理就是丈量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
X荧光测厚仪性能特点
1、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
2、0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
3、高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光，可自动定位测试高度
5、定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
6、鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
7、高分辨率探头使分析结果更加精准
8、良好的射线屏蔽作用
9、测试口高度敏感性传感器保护