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X荧光光谱仪XRF的性能特点和主要优势概述

时间:2022-01-23      阅读:2281

   X荧光光谱仪XRF是用X-射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光,分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X-射线波长和强度,从而测定各种元素的含量;而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线,照射样品发射X荧光,X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量进行色散,根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量;根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量,这就大大提高了仪器的信噪比,提高了能谱仪分析轻元素的能力。
 
  X荧光光谱仪XRF的性能特点:
  专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
 
  超薄窗大面积的进口SDD探测器。
 
  内置信噪比25倍。
 
  抽真空样品腔,有利于低含量轻元素的分析
 
  针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
 
  任意多个可选择的分析和识别模型
 
  相互独立的基体效应校正模型
 
  多变量非线性回归程序
 
  智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
 
  X荧光光谱仪XRF的主要优势:
  1、采用*的激发X光源,样品激发结构和探测系统,大大提高仪器元素的检测灵敏度(降低检出限);
 
  2、具有现代化的外观,结构和色彩,上盖电动控制开关,更人性化;
 
  3、准直器,滤光片自动切换,可适应不同的样品测试要求;
 
  4、大容量的样品腔和高清摄像头,样品测量更灵活方便;
 
  5、配备功能齐全的测试软件。
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