新型IO-Link双张传感器，实现可靠检测
使用新型的IO-Link双张传感器，比以往更加容易地实现可靠双张材料检测。
来自于超声波传感器技术专家倍加福的M18和M30设计的新型IO-Link双张传感器，比以往更加容易地实现可靠双张材料检测。无论是检测纸张、箔片、木材、金属，还是高反光的太阳能硅片， UDC-18GS-*IO-* 和 UDC（M）-30GS-*IO-* 传感器凭借其简单的参数化设置和更大的灵活性，能够从市场上的其他标准双张传感器中脱颖而出。

用于简单调试的预设阈值

超声波发射器和接收器的对射组合方案为解决方案提供了技术基础，通过使用超声波脉冲连续监测设备中物料的传送。传感器通过能量幅值变化来检测是否包含了第二层材料。在调试期间，设备通过集成的辅助对齐模式为用户提供安装支持，该装置使用LED序列来指示发射器和接收器是否正确对齐。此外，新型双张传感器为不同厚度的材料提供了三个预定义的阈值设置。用户可以通过连接传感器input端子或IO-Link快速简便地在这些不同设置之间进行切换。

如果应用除了预设之外还需要自定义设置，或者整个设备控制需要基于示教程序，可以通过使用PLC对传感器的示教输入进行更改。传感器通过数字量输出主动向控制器报告远程示教是否成功。这意味着新的双张传感器也可以十分便捷地集成到现有的设备上。另外，传感器内置的IO-Link接口可用于示教。对于通过IO-Link进行配置，倍加福还提供了采用基于PACTware软件的设备DTM和控制器的功能模块。

无论是检测纸张、箔片、木材、金属，甚至是高反光的太阳能硅片——新型双张传感器为各种材料提供优选的解决方案。

具备IO-Link功能，更加深入可靠

除了简化调试和可在实际运行期间进行参数的功能外，双张传感器的IO-Link接口还为设备分析和维护开启了新的潜能。IO-Link接口允许访问所有传感器参数、诊断数据和过程数据，而无需额外工作。例如，根据当前正在运行的材料及其特定的声阻特征，过程数据的实时监控可以帮助检查传感器中的阈值是否匹配。这样就可以保证设置了正确的传感器参数，并且减少检测错误，从而提高设备的可用性。

温度显示和工作小时计数器是额外的诊断工具，可以帮助实现可靠的状态监测和预测性维护。当需要维护时，定位功能有助于识别系统中受到影响的传感器：控制器使用特定的传感器指令来触发相关传感器，并通过闪烁的LED进行标识。这样，维护操作就能够准确及时地执行。

自动同步和推挽输出

如果双张材料检测应用中需要多个双张传感器相互靠近安装，新设备可以开启自带的自动同步功能。一个简单的线缆连接，可以支持多达10个传感器连接，防止它们相互干扰，从而进一步提高功能可靠性。与之前的版本不同，倍加福新型双张传感器配备了推挽输出，允许用户在国际标准下使用该产品，从而节省PNP和NPN版本的库存成本。

产品特性

用途广泛：从纸张到金属，只需一个设置即可实现简单的双张材料检测

高可用性：集成IO-Link接口，允许访问传感器参数、诊断数据和过程数据

快速调试：通过预设阈值、IO-Link或带反馈的示教功能

过程可靠性：在受限空间内使用多个传感器时，传感器可以开启自动同步功能。