四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择： 四探针探头是四探针法测试电阻率/方阻测试系统的关键部件。探头通过四根探针，以适当的压力和点阵形式与样品接触，连接四探针仪器后，实现四探针法电流的加载，电压的取样。应根据样品的物理特性，如是固体还是粉末，是一般硅片、金属等硬质材料还是柔性薄膜、涂层、ITO膜类材料，是单一导电层材料还是复合导电层，样品的尺寸大小等条件来选择探头的压力和点阵形式，选择型号。 表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》 序号 | 型号 | 名称 | 特征图片 | 规格参数 | 选用场合 | 1 | ST2253-F01 | 钨针直线四探针探头 | 
| 直线四探针针距：1+1+1，探针：碳化钨针 | 硅片、金属等硬材料电阻率/方阻测试 | 2 | ST2558A-F01 | 光伏电池片方阻直线四探针探头 | 
| 直线四探针针距：2+2+2，探针：长钢尖针 | 硅材料光伏电池片方阻测试 | 3 | ST2558A-F02 | 薄膜方阻刀型测试台 | 
| 刀型测试台刀距100，刀宽100 | 柔性薄膜、金属涂层膜方阻测试 | 4 | ST2558B-F01 | 薄膜方阻直线四探针探头 | 
| 直线四探针针距：2+2+2，探针：镀金磷铜半球形针尖 | 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试 | 5 | ST2558B-F02 | 箔上涂层电阻率方阻四端子探头 | 
| 针距8，直径4探针：圆柱平端面 | 箔上涂层电阻率/方阻测试 | 6 | ST2558B-F03 | 薄膜方阻直线四探针探头 |  | 直线四探针针距1+1+1，探针：镀金磷铜半球形针尖 | 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试 | 7 | ST2571A-F01 | 薄膜方阻矩形四探针探头 | | 矩形四探针针距1X1探针：碳化钨针 | 硅片电阻率和方阻仪 | 8 | ST2571A-F02 | 薄膜方阻矩形四探针探头 | 
| 矩形四探针针距1X1探针：镀金磷铜半球形针尖 | 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试 | 9 | ST2571A-F03 | 薄膜方阻矩形四探针探头 | 
| 矩形四探针针距2X2探针：镀金磷铜半球形针尖 | 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试 |
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