表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4
时间：2018-03-23 阅读：2084
1. 系统
检出器测力：0.75 mN
型号 | 主机规格 | ||
X1 轴测量范围 | 垂直移动 | 花岗岩基座尺寸 | |
SV-C3200S4 | 100 mm | 300 mm | 600×450 mm |
1-1. 系统图
 |
 | |||||
 | |||||
 | |||||
 | |||||
1-2. 数据处理部
分析软件 |
| FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS |
2. 主机规格
2-1. 测量表面粗糙度时
适用标准：JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA
评价轮廓：基本曲线／粗糙度曲线／包络残余线／过滤波形曲线／带通波曲线／波纹度曲线／滚环波纹曲线／
粗糙度motif／波纹度motif／DIN4776
测量范围 | X1 轴 |
| 100 mm |
| 检出器 | 800 μm、80 μm、8 μm | |
类型 | X1 轴 |
| 反射型线性编码器 |
| 检出器 |
| 差动电感式 |
分辨力 | X1 轴 |
| 0.05 μm |
| 检出器 |
| 0.01μm（800 μm） 0.001 μm（80 μm） 0.0001 μm（8 μm） |
直线度
|
| （0.05＋L/1000）μm L为驱动长度（mm） （以X1轴为水平方向上） | |
测针上／下运作 |
| 弧形移动 | |
测针方向 |
|
| 向下 |
测力 |
|
| 0.75 mN |
测针针尖形状 |
| 60°、R2 μm | |
2-2. 测量轮廓形状时
测量范围 | X1 轴 |
| 100 mm |
| Z1轴（检出器） | 60 mm | |
类型 | X1 轴 |
| 反射型线性编码器 |
| Z1轴 |
| 圆弧光栅尺 |
分辨力 | X1 轴 |
| 0.05 μm |
| Z1轴 |
| 0.04 μm |
直线度 |
| 0.8μm/100 mm （以X1轴为水平方向上） | |
指示精度 | X1 轴 |
| ±（0.8＋0.01L）μm L为驱动长度（mm） |
（20℃） | Z1轴 |
| ±（1.6＋｜2H｜/100）μm H：基于水平位置的测量高度（mm） |
测针上／下运作 | 弧形移动 | ||
测量方向 |
|
| 向前/向后 |
测针方向 |
|
| 向上/ 向下 |
测力 |
|
| 30 mN |
跟踪角度 | 向上 |
| 77°（依表面粗糙度而定） |
| 向下 |
| 83°（依表面粗糙度而定） *使用配置的标准测头 |
测针针尖 | 半径 |
| 25 μm |
| 材料 |
| 硬质合金 |
2-3. 主机规格
垂直移动 | Z2 轴(立柱) | 300 mm | |
长度基准 | Z2 轴 |
| ABSOLUTE 线性编码器 |
分辨力 | Z2 轴 |
| 1 μm |
X1 轴倾角范围 |
| ±45° | |
驱动速度 | X1 轴 |
| 0～80 mm/s外加手动 |
| Z2 轴 |
| 0～30 mm/s外加手动 |
测量速度 |
|
| 0.02～5 mm/s |
基座尺寸 | 600×450 mm | ||
基座材料 |
|
| 花岗岩 |
尺寸 | 主机 | 996×575×966 mm | |
| 控制器 | 221×344×490 mm | |
| 遥控箱 | 248×102×62.2 mm | |
重量 | 主机 | 140 kg | |
| 控制器 | 14 kg | |
| 遥控箱 | 0.9 kg | |
使用温度范围 |
| 15～25 ℃ | |
使用湿度范围 |
| 20～80 %RT 但是不能结露 | |
保存温度范围 |
| -10～50 ℃ | |
保存湿度范围 |
| 5～90 %RT 但是不能结露 | |
电源 |
|
| 100～120V、200～240 V±10%、AC50/60 Hz |
消耗功率 |
|
| 400 W |
3-2. 数据处理部
品名 | 备注 | 数量 |
FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS | 英语、inch/mm | 1 |
电脑 DELL OPTIFLEX 9010 | Windows7（OS：中国語） | 1 |
打印机 HP1000 |
| 1 |