巴鲁夫传感器BES 516-324-G-E4-C：巴鲁夫接触电势是指两种不同的导体或半导体在接触处产生的电势，此电势与两种导体或半导体的性质及在接触点的温度有关，BALLUFF传感器分两种不同导体或半导体的组合称为热电偶。热电偶的热电势EAB（T，T0）是由接触电势和温差电势合成的。BALLUFF传感器，巴鲁夫位移传感器，BES 516-324-G-E4-C货期，欢迎传真询价！王

BALLUFF传感器型号例举：

BES 516-300-S166-S49
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BES 516-300-S180-PU-06
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BES 516-300-S166-PU-02
BES 516-300-S166-05
BES 516-300-S180-02
BES Q08ZC-POC20B-BP03
BES 516-300-S170-05
BES Q08ZE-PSC20B-BP03
BES Q08ZE-POC20B-S49G
巴鲁夫传感器BES Q08ZC-NSC20B-BP06
BES Q08ZE-NSC20B-S49G
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BES 516-3005-E4-C-S4-01
BES 516-3005-E4-C-S49-00,3
BES 516-3005-E4-C-PU-01
BES 516-300-S202-S49
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巴鲁夫传感器BES 516-3005-G-E4-C-PU-02
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巴鲁夫传感器BES M12MI-PS0B-BP03
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巴鲁夫传感器BES M12MI-PSC20B-BV02
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BES 516-377-G-E4-C-PU-05
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BES 516-324-EO-C-03
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巴鲁夫传感器在自动化生产中往往需要利用辐射测温法来测量或控制某些物体的表面温度，如冶金中的钢带轧制温度、轧辊温度、锻件温度和各种熔融金属在冶炼炉或坩埚中的温度。在这些具体情况下，物体表面发射率的测量是相当困难的。对于固体表面温度自动测量和控制，可以采用附加的反射镜使与被测表面一起组成黑体空腔。附加辐射的影响能提高被测表面的有效辐射和有效发射系数。利用有效发射系数通过仪表对实测温度进行相应的修正，zui终可得到被测表面的真实温度。BALLUFF传感器zui为典型的附加反射镜是半球反射镜。球中心附近被测表面的漫射辐射能受半球镜反射回到表面而形成附加辐射，从而提高有效发射系数式中ε为材料表面发射率，ρ为反射镜的反射率。前者成为码盘，后者称码尺．按照读出方式编码器可以分为接触式和非接触式两种．接触式采用电刷输出，一电刷接触导电区或绝缘区来表示代码的状态是“１”还是“０”；非接触式的接受敏感元件是光敏元件或磁敏元件，采用光敏元件时以透光区和不透光区来表示代码的状态是“１”还是“０”。巴鲁夫传感器按照工作原理编码器可分为增量式和式两类。如欲测定物体的真实温度，则必须进行材料表面发射率的修正。而材料表面发射率不仅取决于温度和波长，而且还与表面状态、涂膜和微观组织等有关，因此很难精确测量。

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