QUC-200-数显式磁性测厚仪_超声波测厚仪-上海银泽仪器设备有限公司手机版

QUC-200数显式磁性测厚仪

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2024-12-28 07:28:41: 1998

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产品简介

GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74，本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。

详细介绍

一、数显式磁性测厚仪QUC-200执行标准：
　　
　　GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74，本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。
　　

二、数显式磁性测厚仪QUC-200主要技术参数：
　　
　　1测量范围：O-200μm
　　2测量精度：±（0.7μm+3%H）*H为标准厚度

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