超声波探伤时影响缺陷定位的主要因素

　　1.超声波探伤仪的影响：水平线性、水平刻度精度。

　　2.超声波探头：主声束偏向，探头波束双峰，斜探头斜楔磨损使K值变化，探头晶片发射、接收声波指向性。

　　3.被测工件影响：

　　a.表面粗糙：表面凹凸不平引起进入工件声束分叉；

　　b.工件材质：材质晶粒引起林状反射，即材料噪声，试块与工件材质差异，引起声速变化，试块与工件应力差异，引起声速变化使K值变。压力应力声速增加，拉应力声速减小每1kg/mm2引起0.01%；

　　c.工件表面形状：曲面工件探伤时探头平面时为点或线接触探头磨成曲面，使入射点改变，从而引起K值变化;

　　d.工件边界：靠工件边界探测时，由于侧壁干扰，使主声束偏向，改变K值;

　　e.工件温度：工件温度升高K值增大，工件温度下降K值变小;

　　f.工件中缺陷：缺陷反射指向性引起不在主声束入射缺陷时出现高反射，引起误判;

　　4.操作人员影响

　　a.调试超声波探伤仪扫描线比例不准。

　　b.测量超声波探头入射值，K值不准。

　　c.定位方法不当：曲面工件未修正等。

　　超声探伤中使用的试块分为标准试块和对比试块两大类。

　　1.标准试块具有规定的材质、表面状态、几何形状与尺寸，可用以评定和校准超声检测设备

　　对比试块是以特定方法检测特定试件时所用的试块。

　　2.探伤中使用试块是为了保证检测结果的准确性与可重复性、可比性。

　　3.超声测量中使用的试块是针对待测工件而特别制作的相同材质、热处理工艺的试块。它的使用是为了校准仪器的声速及零点，以便得到比较准确的测量厚度。