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常见粒度仪的几种测试方法

时间:2013-01-09      阅读:1118

1)筛分法。优点:简单、直观、设备造价低,常用于大于40um的样品。缺点:结果受人为因素和筛孔变形影响较大。

      (2)显微镜(图像)法。优点:简单、直观,可进行形貌分析,适合分布窄(zui大和zui小粒径的比值小于10:1)的样品。缺点:代表性差,分析分布范围宽的样品比较麻烦,无法分析小于1um的样品。

      (3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。优点:操作渐变,仪器可以连续运行,价格低,准确性和重复性较好,测试范围较广。缺点:测试时间较长,操作比较繁琐。

      (4)电阻法。优点:操作渐变可测颗粒数,等效概念明确,速度快,准确性好。缺点:不适合测量小于0.1um的颗粒样品,对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。

      (5)激光法。优点:操作简便,测试速度快,测试范围广,重复性和准确性好,可进行在线测量和干法测量。缺点:结果受分布模型影响较大,仪器造价较高,分辨力低。
 

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