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GB-PCB

时间:2016-12-29      阅读:1869

GB-PCB
项目规范条件规范名称(中文)
1GB 4943-1995信息技术设备(包括电气事务设备)的安全
2GB/T 12629-1990限定燃烧性的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印刷电路板用)
3GB/T 12630-1990一般用途的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印刷电路板用)
4GB/T 12631-1990印刷导线电阻测试方法
5GB/T 13555-1992印刷电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜
6GB/T 13556-1992印刷电路用挠性覆铜箔聚脂薄膜
7GB/T 13557-1992印刷电路用挠性覆铜箔材料试验方法
8GB/T 1360-1998印刷电路网格体系
9GB/T 14708-1993挠性印刷电路用涂胶聚酯薄膜
10GB/T 14709-1993挠性印刷电路用涂胶聚酰亚胺薄膜
11GB/T 16261-1996印刷电路板总规范
12GB/T 16315-1996印刷电路用限定燃烧性的覆铜箔聚酰亚胺玻璃布层压板
13GB/T 16317-1996多层印刷电路用限定燃烧性的薄覆铜箔聚酰亚胺玻璃布层压板
14GB/T 2036-1994印刷电路术语
15GB/T 4588.10-1995印刷电路板 第10部分: 有贯穿连接的刚挠双面印刷电路板规范
16GB/T 4588.1-1996无金属化孔单双面印刷电路板分规范
17GB/T 4588.2-1996有金属化孔单双面印刷电路板分规范
18GB/T 4588.3-1988印刷电路板设计和使用
19GB/T 4588.4-1996多层印刷电路板 分规范
20GB/T 4677.10-1984印刷电路板可焊性测试方法
21GB/T 4677.11-1984印刷电路板耐热冲击试验方法
22GB/T 4677.1-1984印刷电路板表层绝缘电阻测试方法
23GB/T 4677.12-1988印刷电路板互连电阻测试方法
24GB/T 4677.13-1988印刷电路板金属化孔电阻的变化 热循环测试方法
25GB/T 4677.14-1988印刷电路板蒸汽-氧气加速老化试验方法
26GB/T 4677.15-1988印刷电路板绝缘涂层耐溶剂和耐焊剂试验方法
27GB/T 4677.16-1988印刷电路板一般检验方法
28GB/T 4677.17-1988多层印刷电路板内层绝缘电阻测试方法
29GB/T 4677.18-1988多层印刷电路板层间绝缘电阻测试方法
30GB/T 4677.19-1988印刷电路板电路完善性测试方法
31GB/T 4677.20-1988印刷电路板镀层附着性试验方法 摩擦法
32GB/T 4677.21-1988印刷电路板镀层孔隙率测试方法 气体暴露法
33GB/T 4677.2-1984印刷电路板金属化孔镀层厚度测试方法 微电阻法
34GB/T 4677.22-1988印刷电路板表面离子污染测试方法
35GB/T 4677.23-1988印刷电路板阻燃性能测试方法
36GB/T 4677.3-1984印刷电路板拉脱强度测试方法
37GB/T 4677.4-1984印刷电路板抗剥强度测试方法
38GB/T 4677.5-1984印刷电路板翘曲度测试方法
39GB/T 4677.6-1984金属和氧化覆盖层厚度测试方法 截面金相法
40GB/T 4677.7-1984印刷电路板镀层附着力试验方法 胶带法
41GB/T 4677.8-1984印刷电路板镀涂覆层厚度测试方法 β反向散射法
42GB/T 4677.9-1984印刷电路板镀层孔隙率电图像测试方法
43GB/T 4721-1992印刷电路用覆铜箔层压板通用规则
44GB/T 4722-1992印刷电路用覆铜箔层压板试验方法
45GB/T 4723-1992印刷电路用覆铜箔酚醛纸层压板
46GB/T 4724-1992印刷电路用覆铜箔环氧纸层压板
47GB/T 4725-1992印刷电路用覆铜箔环氧玻璃布层压板
48GB/T 4825.1-1984印刷电路板导线局部放电测试方法
49GB/T 4825.2-1984印刷电路板导线载流量测试方法
50GB/T 5489-1985印刷电路板制图
51GB/T 7613.1-1987印刷电路板导线耐电流试验方法
52GB/T 7613.2-1987印刷电路板表层耐电压试验方法
53GB/T 7613.3-1987印刷电路板金属化孔耐电流试验方法
54GB/T 9315-1988印刷电路板外形尺寸系列

■其它类

项目规范条件规范名称(中文)规范名称(英文)适用规范
1GB/T 1772-1979电子元器件失效率试验方法Determination of failure rate of electronic elements and components 
2GB/T 2689.1-1981恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则Constant stress life tests and acceleration life tests--General rules 
3GB/T 4166-1984电子设备用可变电容器的试验方法Methods of test of variable capacitors in electronic equipmentIEC 60418-1-81
4GB/T 4619-1996液晶显示器件测试方法Measuring methods for liquid crystal display devices 
5GB/T 4677.1-1984印刷电路板表层绝缘电阻测试方法Test method of surface insulation resistance for printed boardsIEC 60326-2-76
6GB/T 4677.2-1984印刷电路板金属化孔镀层厚度测试方法 微电阻法Micro-resistance test method of plating thickness of platedthrough holes for printed boardsIPC TM-650
7GB/T 4677.3-1984印刷电路板拉脱强度测试方法Test methods of pull strength for printed boardsIEC 60326-2-76
8GB/T 4677.4-1984印刷电路板抗剥强度测试方法Test methods of peel strength for printed boardsIEC 60326-2-76
9GB/T 4677.5-1984印刷电路板翘曲度测试方法Test methods of platness for printed boardsIPC D-300
10GB/T 4677.10-1984印刷电路板可焊性测试方法Test method of solderability for printed boardsIEC 60068-2-20C
11GB/T 4677.11-1984印刷电路板耐热冲击试验方法Test methods of thermal shock for printed boardsIEC 60326-2-76
12GB/T 4677.12-1988印刷电路板互连电阻测试方法Test method of interconnection resistance for printed boardsIEC 60326-2-76
13GB/T 4677.13-1988印刷电路板金属化孔电阻的变化 热循环测试方法Test method of change in resistance of plated-through holes--Thermal cycling for printed boardsIEC 60326-2A-80
14GB/T 4677.14-1988印刷电路板蒸汽-氧气加速老化试验方法Test method of steam/oxygen accelerated ageing of printed boardIEC 60326-2A-80
15GB/T 4677.17-1988多层印刷电路板内层绝缘电阻测试方法Test method for insulation resistance within inner layers of multilayer printed boardsIEC 60326-2-76
16GB/T 4677.18-1988多层印刷电路板层间绝缘电阻测试方法Test method for insulation resistance between layers of multilayer printed boardsIEC 60326-2-76
17GB/T 7613.1-1987印刷电路板导线耐电流试验方法Test method for current proof of conductors on printed boards 
18GB/T 7613.2-1987印刷电路板表层耐电压试验方法Test methods for voltage proof of surface layers on printed boards 
19GB/T 12631-1990印刷导线电阻测试方法Test method for resistance of conductor of printed boardsIEC 60326-2-76
20GB/T 12848-1991扭曲向列型液晶显示器件总规范 (可供认证用)Generic specification of twisted nematic liquid crystal display devices 
21GB/T 15427-1994彩色显示管测试方法Methods of measurement of colour display tubes 

    宏展科技拥有一个专业从事环境试验设备研发的科研机构,具备成熟的环试研制手段与试验室,聚集了行业内一批的各类人才和专家,强大的研发团队着国内环试技术发展方向.现目前公司具有自主知识产权的高低温试验箱高低温湿热试验箱快速温度变化试验箱冷热冲击试验箱、三综合试验箱、高低温低气压试验箱太阳辐射试验箱、工业烤箱以及步入式高低温湿热试验箱和高风速淋雨试验箱等气候环境试验设备及订制产品处于国内、高水准。 

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